场景化
解决方案
Jino Digital 将复杂的计算机视觉算法转化为可落地的工业生产力。我们不提供通用模型，只针对台湾严苛的制造与物流环境，构建高可靠性、低延迟的视觉架构。
工业级缺陷检测系统
在半导体、电子组件及精密光学制造领域，肉眼难以察觉的微小划痕或几何偏差即意味着巨额损失。我们的系统通过亚像素几何推算替代传统模板匹配，确保在极速生产线上实现零误报。
高速表面扫码与缺陷识别
针对金属反光及复杂背景，我们内置自定义对比度增强模型（Contrast Enhancement Model）。系统不仅识别存在与否，更通过实例分割技术（Instance Segmentation）对缺陷进行毫秒级分类。
- 支持工业 PC (IPC) 与主流 PLC 协议
- 适配高帧率捕捉设备 (up to 500 FPS)
- 模块化 SKU 适配，停机调试时间降低 70%
逻辑映射：视觉至机械执行
"视觉输出不再是孤立的标签，而是实时的控制指令。"
骨架提取及几何推算，提供亚像素级的抓取坐标，解决堆叠零件识别难题。
毫秒级触发 PLC 响应，确保剔除机构与计算结果同步，无延迟生产。
架构决策：边缘计算与云端协作
根据您的响应时间需求、数据合规性以及硬件成本预算，我们通过以下核心维度协助您选择最匹配的视觉部署架构。
| 对比维度 | 边缘视觉模组 (Edge) | 工业云端中心 (Cloud) |
|---|---|---|
| 推理延迟 (Latency) | 毫秒级实时响应 (<10ms)，适用于安全监测与剔除。 | 秒级响应，受限于网络带宽，适用于趋势分析。 |
| 数据安全 (Privacy) | 数据本地闭环处理，符合台湾制造业数据私有化要求。 | 数据加密传输至中心，便于多站点横向对比。 |
| 硬件投入 (Initial Cost) | 需投入具备 NPU/GPU 算力的前端网关，后期运维低。 | 前端摄像头轻量化，主要成本集中于云端订阅与带宽。 |
| 应用场景 (Usecase) | AGV 避障、产线质检、实时入侵检测。 | 全厂能效分析、历史缺陷分布溯源、长周期监控。 |
不确定如何选择？
我们的工程师可针对您现有的传感器与算力环境（如 Intel OpenVINO, NVIDIA TensorRT, ARM NPU）进行初步兼容性评估，为您制定混合部署策略。
复杂环境下的物体追踪
物流仓储内的包裹形态各异且堆叠密集。传统 2D 识别在弱光或阴影下极易失败。
Jino Digital 利用多光谱成像与动态背景减除卷积层，实现在低温、雾气甚至是重影干扰下的精准抓取。我们的算法能准确识别温控传感器状态并提取步态语义信息，实现无接触式的流程追踪。
需求定义 / 现场勘察
分析现有的光学基础设施，评估光源、安装位点与网络拓扑。成功源于对原始数据质量的极致把控。
数据集与模型微调
使用您的私有数据集对基础模型进行训练，针对划痕、变形、多色彩等特定特征点进行加权优化。
硬件集成与部署
进行底层 API 配置与本地设备烧录。我们确保软件能稳健运行在现有的 IPC 或嵌入式端点中。
监控与演进迭代
部署后进行线上精度校验，支持 OTA 算法升级，随生产线变化快速调整识别逻辑。
